晶片表面缺陷测试仪

详情描述：

SD-300i用于测定单晶材料的表面缺陷，适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高精度定向仪，实现了缺陷和定向双功能。
产品特点：
■ 缺陷和定向双功能
■ 配有射线窗口电磁光闸和可靠的射线防护罩，确保安全使用
■ 表格和曲线的形式显示，一目了然
■ 速度快，重复性好
■ 效率高，数据实时处理
技术参数：
■ 测试时间：1-2分钟
■ 重复性精度：≤?5″。 
■ 测角精度为?15″
■ 小读数1″