0603 16V 685K X7R笔记本专用贴片电容

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在使用电容的射频设计中，ESR是必须考虑的重要参数。为了有效地描述电容的ESR， 需要可靠和可重复的测试方法。测量高Q片状陶瓷电容的ESR需要固有Q值大于被测器件 (DUT)的测试系统。高Q谐振同轴线是常用测试设备。同轴线谐振腔通常由铜管作外导 体，铜棒作中心导体。被测器件串联在中心导体和地之间。见图3。测量ESR之前，先要 确定空载谐振传输线的特性。将同轴线短路，再加射频激励，测出四分之一和四分之三波长 带宽。然后，将传输线开路，测出半波长和一个波长带宽。从以上数据可得到传输线空载Q 值，测量系统电阻和谐振频率。通常传输线空载Q值量级是1300到5000 (130MHz到 3GHz)，四分之一波长测量系统电阻是5到7毫欧姆。联系欧阳：15217057671  0755-2 9120592 QQ：2355274968 可获得免费寄样服务，随时欢迎您的来 电
被测样品电容和位于传输线低阻抗端的短路活塞串联。调整信号源频率以获得谐振电压 峰值。再改变信号源频率从谐振曲线峰值向左右下调6dB。在传输线的高阻抗端以轻度耦合 接入射频毫伏表探头，以测量6dB点的射频电压。被测器件接入后对传输线Q值造成微扰， 改变了上述无载时的谐振频率和带宽。对应的下调6dB的频率fa和f b可用于计算电容的 ESR。此法称为Q值微扰法，见图2。注意：因为被测电容样品的容性电抗与传输线串联，