电子产品高低温冲击试验箱

详情描述：

 电子产品高低温冲击试验箱用途：
该试验箱主要是测试电子产品在高温、低温瞬间变化的气候环境下的贮存、运输和使用时的性能试验，主要用于各种各类型的电子产品在模拟冷温、热温时温度瞬间变化的气候条件下的适应性试验，对电子产品的物理以及其相关性能进行测试或试验，大概详情如下：
1.在研制阶段用以暴露试制产品各方面的缺陷，评价电子产品可靠性达到预定指标的情况；
2.生产电子产品阶段为监控生产过程提供信息；
3.对电子产品的定型进行可靠性鉴定或验收；
4.暴露和分析电子产品在不同环境和应力条件下的失效规律及有关的失效模式和失效机理；
5.为改进电子产品的可靠性，制定和改进可靠性试验方案，为用户选用产品提供依据。
电子产品高低温冲击试验箱简易参数表：
型号	AP-CJ-50L	AP-CJ-80L	AP-CJ-150L	AP-CJ-1000L
工作室尺寸D?W?H	350?350?400	500?400?400	600?500?500	1000?1000?1000
功率（KW）A/B/C	20/21/22	21/22/23	22/23/25	50/55/65
性能
指标	温度范围	A:-40℃～150℃ B:-55℃～150℃C:-65℃～150℃
	温度波动	?0.5℃;均匀度?2℃
	样品区温度波动	?0.5℃（恒温时）
	样品区承重	30kg	30kg	50kg	60kg
温湿度运行控制系统	控制器	进口LED数显（P?I?D  S?S?R）微电脑集成控制器
	精度范围	设定精度：温度0.1℃，指示精度：温度0.1℃，解析度：0.1℃
	制冷系统	进口德国谷轮半封闭水冷式压缩机组/原装法国“泰康”/全封闭风冷复迭压缩制冷方式
	循环系统	耐温低噪音空调型电机.多叶式离心风轮
温度转换时间	从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S
温度恢复时间	≤5min（与温度恢复条件有关，既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关）
温度冲击方式	两箱式/三箱式(两箱式电子产品高低温冲击试验箱/三箱式电子产品高低温冲击试验箱