代办焊接管件B5内蒙古东胜生产资质

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代办焊接管件B5内蒙古东胜生产资质
 
 
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—2005
 
运用CS Ⅱ试块，依次查验一组不一样检查距离的φ3平底孔（少三个）。调度衰减器，作出双晶直探头的距离－波幅曲线，并以此作为基准灵敏度。 4.2.6.3  扫查灵敏度一般不得低于大检查距离处的φ2mm平底孔当量直径。 4.2.7  工件资料衰减系数的测定 4.2.7.1  在工件无缺点无缺区域，挑选三处检查面与底面平行且有代表性的部位，调度仪器使初度底面回波凹凸（B1或Bn）为满刻度的50%，记载此刻衰减器的读数，再调度衰减器，使第2次底面回波凹凸（B2或Bm）为满刻度的50%，两次衰减器读数之差即为（B1、B2）或（Bn、Bm）的dB差值（不考虑底面反射丢掉）。 4.2.7.2  衰减系数的核算公式（T＜3N，且满意n＞3N/T，m =2n）  α=［（Bn-Bm）-6］/2（m - n）T         ,,,,,,,,,,,（1） 式中： α——衰减系数，dB/m（单程）；    （Bn - Bm）——两次衰减器的读数之差，dB；     T——工件检查厚度，mm；     N——单直探头近场区长度，mm； m、n——底波反射次数。 4.2.7.3  衰减系数（T≥3N）按式(2)核算  α=［（B1-B2）-6］/2T             ,,,,,,,,,,,,（2） 式中: （B1-B2）——两次衰减器的读数之差，dB； 其他符号意义同式（1）的。 4.2.7.4  工件上三处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。 4.2.8  缺点当量的断定 4.2.8.1  被检缺点的深度大于或等于探头的3倍近场区时，选用AVG曲线及核算法断定缺点当量。关于3倍近场区内的缺点，可选用单直探头或双晶直探头的距离－波幅曲线来断定缺点当量。也可选用其他等效方法来断定。 4.2.8.2  核算缺点当量时，若资料衰减系数跨过4dB/m，应考虑批改。 4.2.9  缺点记载 4.2.9.1  记载当量直径跨过φ4mm的单个缺点的波幅和方位。 4.2.9.2  密集区缺点：记载密集区缺点中大当量缺点的方位和缺点散布。饼形锻件应记载大于或等于φ4mm当量直径的缺点密集区，其他锻件应记载大于或等于φ3mm当量直径的缺点密集区。缺点密集区面积以50mm?50mm的方块作为小测量单位，其距离可由6dB法挑选。 4.2.9.3  底波下降量应按表6的央求记载。                     表6  由缺点致使底波下降量的质量分级                  dB 等  级 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ 底波下降量 BG/BF ≤8 >8~14 >14~20 >20~26 >26     注：本表仅适用于声程大于近场区长度的缺点。   4.2.9.4  衰减系数：若合同两头有规则时，应记载衰减系数。 4.2.10  质量分级等级断定 4.2.10.1  单个缺点的质量分级见表7。
运用CS Ⅱ试块，依次查验一组不一样检查距离的φ3平底孔（少三个）。调度衰减器，作出双晶直探头的距离－波幅曲线，并以此作为基准灵敏度。 4.2.6.3  扫查灵敏度一般不得低于大检查距离处的φ2mm平底孔当量直径。 4.2.7  工件资料衰减系数的测定 4.2.7.1  在工件无缺点无缺区域，挑选三处检查面与底面平行且有代表性的部位，调度仪器使初度底面回波凹凸（B1或Bn）为满刻度的50%，记载此刻衰减器的读数，再调度衰减器，使第2次底面回波凹凸（B2或Bm）为满刻度的50%，两次衰减器读数之差即为（B1、B2）或（Bn、Bm）的dB差值（不考虑底面反射丢掉）。 4.2.7.2  衰减系数的核算公式（T＜3N，且满意n＞3N/T，m =2n）  α=［（Bn-Bm）-6］/2（m - n）T         ,,,,,,,,,,,（1） 式中： α——衰减系数，dB/m（单程）；    （Bn - Bm）——两次衰减器的读数之差，dB；     T——工件检查厚度，mm；     N——单直探头近场区长度，mm； m、n——底波反射次数。 4.2.7.3  衰减系数（T≥3N）按式(2)核算  α=［（B1-B2）-6］/2T             ,,,,,,,,,,,,（2） 式中: （B1-B2）——两次衰减器的读数之差，dB； 其他符号意义同式（1）的。 4.2.7.4  工件上三处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。 4.2.8  缺点当量的断定 4.2.8.1  被检缺点的深度大于或等于探头的3倍近场区时，选用AVG曲线及核算法断定缺点当量。关于3倍近场区内的缺点，可选用单直探头或双晶直探头的距离－波幅曲线来断定缺点当量。也可选用其他等效方法来断定。 4.2.8.2  核算缺点当量时，若资料衰减系数跨过4dB/m，应考虑批改。 4.2.9  缺点记载 4.2.9.1  记载当量直径跨过φ4mm的单个缺点的波幅和方位。 4.2.9.2  密集区缺点：记载密集区缺点中大当量缺点的方位和缺点散布。饼形锻件应记载大于或等于φ4mm当量直径的缺点密集区，其他锻件应记载大于或等于φ3mm当量直径的缺点密集区。缺点密集区面积以50mm?50mm的方块作为小测量单位，其距离可由6dB法挑选。 4.2.9.3  底波下降量应按表6的央求记载。                     表6  由缺点致使底波下降量的质量分级                  dB 等  级 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ 底波下降量 BG/BF ≤8 >8~14 >14~20 >20~26 >26     注：本表仅适用于声程大于近场区长度的缺点。   4.2.9.4  衰减系数：若合同两头有规则时，应记载衰减系数。 4.2.10  质量分级等级断定 4.2.10.1  单个缺点的质量分级见表7。
 
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4.2.10.2  缺点致使底波下降量的质量分级见表6                          表7  单个缺点的质量分级                             mm 等级 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ 缺点当量直径 ≤φ4 φ4 ( >0dB～8dB) φ4 ( >8dB～12dB) φ4 ( >12dB～16dB) ＞φ4  16dB  4.2.10.3  缺点密集区质量分级见表8。 表8  密集区缺点的质量分级 等  级 Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ 密集区缺点占检查总面积的百分比，% 0 >0～5 >5～10 >10～20 >20 4.2.10.4  表6、表7和表8的等级应作为独立的等级别离运用。 4.2.10.5  当缺点被检查人员断定为危害性缺点时，锻件的质量等级为Ⅴ级。 4.3  承压设备用铝及铝合金和钛及钛合金板材超声检查和质量分级 4.3.1  规划 本条适用于厚度大于或等于6mm的承压设备用铝及铝合金、钛及钛合金板材的超声检查和质量分级。 4.3.2  探头选用 4.3.2.1  探头的选用应按表1的规则进行。 4.3.2.2  双晶直探头功用央求应符合附录A（规范性附录）的央求。 4.3.3  检查方法 4.3.3.1  检查面 可选板材的任一轧制外表进行检查。若检查人员认为需求或方案上有央求时，也可选板材的上、下两轧制外表别离进行检查。 4.3.3.2  扫查方法     a)  探头沿笔直于板材压延方向，距离不大于40mm的平行线进行扫查。在板材剖口预订线两头各50mm内应作100%扫查，扫查暗示如图3。     b)  根据合同、技能协议书或图样的央求，也可选用其他方法的扫查。 4.3.3.3  基准灵敏度的断定 将探头置于待检板材无缺部位，调度初度底波高度为荧光屏满刻度的80%，以此作为基准灵敏度。 4.3.4  耦合方法 耦合方法可选用直接接触法或液浸法。 4.3.5  缺点记载 4.3.5.1  在检查过程中，发现下列情况之一者即作为缺点处理：      a） 缺点初度反射波（F1）波高大于或等于满刻度的40%，即F 1≥40%。 b） 缺点初度反射波（F1）波凹凸于满刻度的40%，一起，缺点初度反射波（F1）波高与底面初度反射波（B1）波高之比大于或等于100%，即F 1/B1≥100%。     c)  当底面初度反射波（B1）波凹凸于满刻度的5%，即B1<5%。 4.3.5.2  缺点距离规划或指示长度的测定方法     a） 检出缺点后，应在它的周围继续进行检查，以断定缺点的延伸。     b） 用双晶直探头断定缺点的距离规划或指示长度时，探头的移动方向应与探头的隔声层相笔直，并使缺点波下降到基准灵敏度条件下荧光屏满刻度的20%或使缺点初度反射波波高与底面初度反射波波高之比为100%。此刻，探头基地的移动距离即为缺点的指示长度，探头基地址即为缺点的距离点。两种方法测得的作用以较严重者为准。     c） 用单直探头断定缺点距离或指示长度时，移动探头，使缺点初度反射波波凹凸降到检查灵敏度条件下荧光屏满刻
 
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