微焦点工业CT检测

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蔡司微焦点工业CT检测：
蔡司微焦点工业CT Xradia Versa架构采用两级放大技术，使您能够在远处(RaaD)独特地实现分辨率。在一阶段，通过几何放大倍数放大样本图像，与传统的微CT一样。在第二阶段，闪烁体将X射线转换成可见光，然后光学放大。减少对几何放大率的依赖使Xradia Versa仪器能够在较大的工作距离内保持亚微米分辨率。这使您能够有效地研究*广泛的样本量，包括在原位室内。此外，各种可选功能扩展了系统核心架构所带来的好处。
　　使用非破坏性3D成像保留并扩展有价值样品的使用
　　使用独特的Versa显微镜设计，在距离光源*大工作距离实现*高分辨率，这是原位和大样本成像的先决条件
　　在宽范围的放大率下，相同样品的多长度尺度成像，<0.7μm真实空间分辨率和低于70nm体素尺寸。
　　行业的4D和现场功能，支持各种现场钻机，用于实际尺寸样品(mm到英寸)的亚微米成像，重量可达25kg，样品尺寸可达300mm
　　独特的双级放大架构，可通过多个放大检测系统轻松导航，通过自动多点断层扫描和重复扫描连续操作，以及高速重建
　　低Z材料和软组织的高级吸收和相衬
　　Scout-and-Scan?控制系统，易于使用的工作流程设置，是多用户环境中的理想选择
　　少需要样品制备
　　可选的Versa In Situ Kit可组织支持环境室(如布线和管道)的设施，以实现*佳成像性能和简化设置
　　Autoloader选项使您可以一次编程和运行多达14个样品，从而*大限度地提高生产效率，实现高容量扫描的自动化工作流程
昆山友硕是蔡司微焦点工业CT的授权一级代理