光伏组件下打光长脉宽组件测试

详情描述：

一、设备功能
适用于单晶硅、多晶硅、Topcon、HIT、HJT、IBC、薄膜电池等光伏组件的电性能测试。
 
二、设备特点
 采用二次大电容电源及直管氙灯，光源稳定
 采用专业设计的滤光片，光谱达到A 级（87.5%-112.5%）
 长脉宽10-200ms单次闪光可调
可测试大组件2600mm?1600mm
下打光平台式设计，便于操作
光照辐度可调200-1200W/㎡，可测试不同光照辐度下的电池性能
专业的控制及数据采集系统，确保数据的准确性和系统稳定性
多项电性参数和I-V及P-V曲线；定点电压处的电流与功率显示
 红外测温，自动温度校正
 
三、设备技术参数
设备型号
ST-TLD3A 
可测量参数
I-V、P-V 曲线、短路电流 Isc、开路电压 Voc、功率 Pmpp、电池效率 Eff、填充因子 FF、功率点的电流 Impp、功率点的电压Umpp、串联电阻 Rser、并联电阻 Rshunt、太阳电池表面温度、Iuld(定点电压对应的电流)、Puld(定点电压对应的功率)，其中Uld可以任意设定
可测组件尺寸
2600mm?1600mm
测试速度
240 pcs/小时
闪光时间
10-200ms可调
灯管寿命
>100000次 / 10ms
辐照度范围
200-1200W/㎡
光谱匹配
0.875-1.125(A 级)
辐照度不稳定性STI
≤0.25%（A 级）
辐照度不稳定性LTI
≤1%（A 级）