N4156A 高性能解决方案用于插入损耗与偏振相关损耗的测量

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N4156A 高性能解决方案用于插入损耗与偏振相关损耗的测量 佳捷伦仪器陈娟15112654880


N4156A高性能测量解决方案提供快速的插入损耗(IL)与偏振相关损耗(PDL)测量，设置简便，能在研发与制造环境中很好地提供波长相关光器件的特性描述。

将测试成本降至低、把吞吐量增至高
该系统设置简便，特为多路转换器/信号分离器或滤光器等关键DWDM无源器件的启动制造商设计。在研制和后测试中，此类器件的制造商需要高性能的测量解决方案，从而大限度地提高吞吐量与产量，降低成本。

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