l 能够测量小至1mm的晶体到或更大的样品
l 各种样品架及输送夹具,用于线锯、抛光等
l 侧晶方向标记选项
l 无水冷却
l **精度:0.01°(视晶体质量而定)
l 确定单晶的完全晶格取向
l 使用Omega扫描方法的超高速晶体定位测量
l 气冷式X射线管,无需水冷
l 适合于研究和生产质量控制
l 手动操作(没有自动化选项)

? 立方/任意未知方向:Si, Ge, GaAs, GaP, InP
? 立方/特殊取向:Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
? 正方:MgF2, TiO2, SrLaAlO4
? 六方/三角:SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2(石英),Al2O3(蓝宝石),GaPO4, La3Ga5SiO14
? 斜方晶系:Mg2SiO4 NdGaO3
? 可根据客户的要求进一步选料