SKYSCAN 1272 CMOS 

凭借Genius模式可自动选择参数。只需单击一下，即可自动优化放大率、能量、过滤、曝光时间和背景校正。

而且，由于能让样品和大尺寸CMOS探测器尽可能地靠近光源，它能大幅地增加实测的信号强度。正是因为这个原因，SKYSCAN 1272 CMOS 的扫描速度比探测器位置固定的常规系统  多可快5倍。

自动进样器

SKYSCAN 1272 CMOS 可以选择配合一个有16个位置的外置自动进样器，以增加进行质量控制和常规分析时的处理速度。

自动进样器可以容纳不同尺寸的样品，样品直径极限可达96 mm。

可以随时很方便地切换样品，不会中断正在进行的扫描过程。系统可以自动检测新样品，LED可以显示每一次扫描的状态：准备、扫描和完成。

原位试验台

布鲁克的材料试验台可以进行极限4400 N的压缩试验和极限440 N的拉伸试验。所有试验台都能通过系统的旋转台自动联系到一起，而无需任何外接线缆。通过使用所提供的软件，可以设置预定扫描试验。

布鲁克的加热台和冷却台可以达到极限 80?C或底线低于环境温度低30?C的温度。和其它的试验台一样，加热和冷却台也不需要任何额外的连接，系统可以自动地识别不同的试验台。通过使用加热台和冷却台，可在非环境条件下检测样品，从而评估温度对样品微观结构的影响。