供应1C31238G01

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BSDL描述语言的实际应用
3.1 TAP完整性测试
指令捕获（INSTRUCTION_CAPTURE）属性提供了测试TAP完整性的一条途径。TAP完整性测试可以检测时钟TCK和模式选择TMS的输入端连接是否正确，所提供的有关信号是否正常；数据输入TDI 和数据输出TDO端的连接是否正确，且输入和输出的功能是否正常；内部的指令寄存器工作是否正常；内部的边界扫描寄存器工作是否正常。TAP完整性测试是进行边界扫描其他任何测试之前建议首先进行的测试操作，以确保边界扫描链能正常工作。
TAP完整性测试的过程如图3所示。在TAP的 Shift-IR状态，指令捕获位图形已加载至指令寄存器的移位寄存器部分，直接从TDO移出数据并与各芯片的Capture位图形比较，若数据一致则 TAP完整性测试通过。
   

3.2 芯片ID码的检测
芯片ID码是识别芯片的内建器件标识码，通过检测芯片ID码可以识别该芯片，判断芯片装配正确与否，并可进一步判断芯片的型号、生产厂家及版本号与其标识是否相符，辨别芯片的真伪。当TAP进入Test-Logic-Reset状态时，若标志寄存器存在，则被强制接入TDI与TDO之间，寄存器LSB的值为“1”，否则，旁路寄存器被接入TDI与TDO之间，寄存器的值为“0”。所以，在检测芯片标志寄存器的值时，可以由复位状态直接进入移位数据状态，输出TDO的值，并判断其位是否为“1”，若是，则此芯片有标准寄存器存在，可继续移出其他31位，并进行判断与显示。检测流程如图4所示。我们在对芯片EPM7128SL84进行ID标识码检测时，用逻辑分析仪采集到的TDO端的输出波形如图5所示，与BSDL描述中的ID码一致，说明器件正确。

1C31238G01

170ADO34000
170BDM34600
170BDM34400
170BDI34600
170BDO34200
170BNO67100
170AAO92100
170AAI03000
170INT11003
170ADI35000
170ADI34600
170ADO35000

1785ACC5LA
1785ACC5LB
1785BCM
1785BEM
1785CHBM
1785ENET
1785KA
1785KA3
1785KA5P
1785KE
1785L11B
1785L20B
1785L20C15
1785L20E
1785L26B
1785L30B
1785L40B
1785L40C15
1785L40E
1785L40L